マイクロトラック MT3300EX
マイクロトラックベル(株)製
溶媒に分散した粒子にレーザーを照射する。粒子の大きさによって散乱角および散乱強度が異なる。散乱光を検出して粒度分布に変換する。
示差走査熱量測定システムDSC8500
(株)パーキンエルマージャパン製
アモルファス試料を加熱して結晶化開始温度を測定する。また結晶化反応の発熱量を測定することもできる。試料と基準物質が同じ温度になるよう加熱または冷却し、その際のヒータ電力の差を記録する。
MiniFlex600
(株)リガク製
アモルファス薄帯の
X線回折プロファイル
試料にX線を照射した際、X線が原子核の周りにある電子によって散乱、干渉した結果起こる回折を観測する。
入射X線の角度を走査しながら、反射X線の強度を測定する。これにより、試料の結晶状態の情報を得る。
卓上走査電子顕微鏡+元素定性JCM-7001
日本電子(株)製
圧粉成型コアの構造欠陥解析
加速電圧 5keV/1000倍
テスト試料のEDX定性分析
Liveマップ画像
振動試料型磁力計VSM-P7-15
東英工業(株)製
磁界Hの中で振動する磁性体試料が作り出した振動磁界を、検出コイルが誘起起電力として検出し、試料の磁化Mを算出する。
振動試料型磁力計VSM-P7-15
東英工業(株)製
磁界Hの中で振動する磁性体試料が作り出した振動磁界を、検出コイルが誘起起電力として検出し、試料の磁化Mを算出する。
Hm , Bm , Br , Hc , Rs , μ0 , μm
軟磁性材料の直流磁化特性(磁束密度、保磁力、透磁率、ヒステリシスループ等)を測定する装置。連続的に変化する磁場を試料に印加し、それに伴う磁束変化によって生ずる誘導起電力をB積分器により積分して磁化の強さを測定する。
粉末用 励磁・検出ユニット
直流磁化特性測定装置 BHS-40
理研電子(株)製
Hm , Bm , Br , Hc , Rs , μ0 , μm
軟磁性材料の直流磁化特性(磁束密度、保磁力、透磁率、ヒステリシスループ等)を測定する装置。連続的に変化する磁場を試料に印加し、それに伴う磁束変化によって生ずる誘導起電力をB積分器により積分して磁化の強さを測定する。
B-Hアナライザ SY-8219
岩崎通信機(株)製
軟磁性薄帯の測定結果
試料にN1回巻かれた1次巻線に電流iを連続的に変化させながら流すと、磁界Hは試料の磁路長をLcとしてH=N1i/Lcで与えられまたN2回巻かれた2次巻線の誘起電圧から磁束密度Bを求めることができる。
こうして得られたB-Hループの面積から、鉄損を測定する。
B-Hアナライザ SY-8219
岩崎通信機(株)製
軟磁性薄帯の測定結果
小型単板磁気測定装置に付属するBコイルのサンプル穴に箔材を通し、装置にセットする。小型単板磁気測定装置を、B-Hアナライザから制御し、励磁コイルに電流を流して試料に磁界Hを変化させながら与え、Bコイルの巻線の誘起電圧から磁束密度Bを求めることができる。こうして得られたB-Hループの面積から、鉄損を測定する。