Product Information
製品情報受託分析

粒子径分布測定

装置

マイクロトラック MT3300EX
マイクロトラックベル(株)製

測定例

  • 仕様
  • 測定原理
  • 特徴
  • サンプル
  • サービス・御見積
測定原理
レーザ回折・散乱法
測定範囲
0.02~2,000μm
光  源
半導体レーザ 780nm / 3mW クラス1レーザ3本

溶媒に分散した粒子にレーザーを照射する。粒子の大きさによって散乱角および散乱強度が異なる。散乱光を検出して粒度分布に変換する。

  • 3光源のため、0~180度に近い前方から後方までの散乱光をほぼ全角度に渡り検出
  • 広い粒度範囲を一度に測定
  • 2mm以下の粉末
  • 必要試料量:0.05~2g
  • 水に溶解しないこと
  • 粉末の粒子径分布測定 1検体あたり3回測定
  • 報告書作成(Excel,PDF,ペーパー)
  • 御見積・分析相談:無料 お気軽にご相談ください。

示差走差熱量(DSC)測定

装置

示差走査熱量測定システムDSC8500
(株)パーキンエルマージャパン製

測定例

  • 仕様
  • 測定原理
  • 特徴
  • サンプル
  • サービス・御見積
ファーネス
ダブルファーネス(Pt-Ir)
測定原理
入力補償型
測定範囲
-170℃~750℃
昇降温速度
0.01~750℃/min
温度精度
±0.05℃
熱量正確度
±0.2%
熱量再現性
±0.3%

アモルファス試料を加熱して結晶化開始温度を測定する。また結晶化反応の発熱量を測定することもできる。試料と基準物質が同じ温度になるよう加熱または冷却し、その際のヒータ電力の差を記録する。

  • 最高昇降温速度650℃/minをコントロールした環境で再現
  • 低質量のファーネスが優れた追従性を実現
  • サンプルに触れることなくクエンチCooling 可能
  • SmartScanTMによるフラットなベースライン
  • Wavelet Analysis によるスムーズな解析
  • デジタルマスフローコントローラー内蔵
  • 必要試料量:10mg
  • 粉砕・融解等してもよいこと
  • 分析(RT~650℃)(データ解析を含む)1検体単位
  • 報告書作成(Excel,PDF,ペーパー)
  • 御見積・分析相談:無料 お気軽にご相談ください。

X線回折分析

装置

MiniFlex600
(株)リガク製

測定例

アモルファス薄帯の
X線回折プロファイル

  • 仕様
  • 測定原理
  • 特徴
  • サンプル
  • サービス・御見積
最大定格出力
600W
X線管
Cu(標準)、Co可
焦点サイズ
1×10mm
ゴニオメータ半径
150mm
走査範囲
2θ :+2°~+140°
最小ステップ角度
0.005°

試料にX線を照射した際、X線が原子核の周りにある電子によって散乱、干渉した結果起こる回折を観測する。
入射X線の角度を走査しながら、反射X線の強度を測定する。これにより、試料の結晶状態の情報を得る。

  • 種々の無機物質の結晶構造の解析可能
    素材:金属、合金、セラミクス、半導体等
    形状:バルク、薄膜、箔、粉末
  • 解析ソフトにより、結晶子サイズの算出可能
  • 必要試料量:10g以上
  • バルク体は、粉砕して粉末状にしてサンプルとしてください。
  • 分析依頼 1検体単位 チャートのみ/チャート+測定解析
  • 報告書作成(Excel,PDF,ペーパー)
  • 御見積・分析相談:無料 お気軽にご相談ください。

電子顕微鏡観察 元素定性分析

装置

卓上走査電子顕微鏡+元素定性JCM-7001
日本電子(株)製

測定例

圧粉成型コアの構造欠陥解析
加速電圧 5keV/1000倍

テスト試料のEDX定性分析

Liveマップ画像

  • 仕様
  • 特徴
  • サンプル
  • サービス・御見積
写真倍率
×10~100,000
真空モード
高真空/低真空モード切替
画像モード
二次電子像、反射電子像
加速電圧
5kV、10kV、15kV(3段)
試料ステージ
X:40mm Y:40mm
最大試料寸法
80mmΦ×50mmh
計測機能
2点間、角度、線幅測定
元素分析
EDS元素分析装置
  • 1つの画面上で光学像からSEM像に移行可能
  • オート機能で低倍率から高倍率まで鮮明画像
  • 非導電性の試料も前処理不要の低真空モード
  • 詳細な形態観察ができる高真空モード
  • 最大試料寸法
    Φ80mm×50mmh
  • SEM観察 1検体 10万倍まで 倍率3種まで
  • EDX定性分析 1検体・1か所
  • 報告書作成(Excel,PDF,ペーパー)
  • 御見積・分析相談:無料 お気軽にご相談ください。

飽和磁束密度測定(箔材)

装置

振動試料型磁力計VSM-P7-15
東英工業(株)製

測定例

  • 仕様
  • 測定原理
  • 特徴
  • サンプル
  • サービス・御見積
磁化測定レンジ
±0.0002~±50emu
感度
2×10-6emu
精度
±1%
磁界測定レンジ
±50Oe~±25kOe
印加磁界
最大15kOe

磁界Hの中で振動する磁性体試料が作り出した振動磁界を、検出コイルが誘起起電力として検出し、試料の磁化Mを算出する。

  • サンプル作製用パンチを使って、サンプルを正確に8mm□に切り出すため、測定誤差が少ない。
  • 標準試料を用いて校正を行うため正確
  • □8mmのサイズ
  • 分析依頼 1検体・2回測定
  • 報告書作成(Excel,PDF,ペーパー)
  • 御見積・分析相談:無料  お気軽にご相談ください。

飽和磁束密度測定(粉末)

装置

振動試料型磁力計VSM-P7-15
東英工業(株)製

測定例

  • 仕様
  • 測定原理
  • 特徴
  • サンプル
  • サービス・御見積
磁化測定レンジ
±0.0002~±50emu
感度
2×10-6emu
精度
±1%
磁界測定レンジ
±50Oe~±25kOe
印加磁界
最大15kOe

磁界Hの中で振動する磁性体試料が作り出した振動磁界を、検出コイルが誘起起電力として検出し、試料の磁化Mを算出する。

  • 専用の円筒形粉末サンプルケースを使用するため、測定のばらつきが少ない。
  • 標準試料を用いて校正を行うため正確
  • 粉末サンプル重量 100mg以上
  • 分析依頼 1検体・2回測定
  • 報告書作成(Excel,PDF,ペーパー)
  • 御見積・分析相談:無料  お気軽にご相談ください。

直流磁化特性測定(箔材)

装置

箔材励磁・検出ユニット

装置

直流磁化特性測定装置 BHS-40
理研電子(株)製

測定例

軟磁性薄帯の測定結果

  • 仕様
  • 測定原理
  • 特徴
  • サンプル
  • サービス・御見積
B積分器 測定範囲
±10³~10⁸Mx‐turn/FS  確度 :±0.5%/FT
H分流器 測定範囲
1~10000A/m 確度 :±0.5%/FT
測定項目

Hm , Bm , Br , Hc , Rs , μ0 , μm

付属品
B軸・H軸拡大装置、消磁装置、デジタルデータ処理装置

軟磁性材料の直流磁化特性(磁束密度、保磁力、透磁率、ヒステリシスループ等)を測定する装置。連続的に変化する磁場を試料に印加し、それに伴う磁束変化によって生ずる誘導起電力をB積分器により積分して磁化の強さを測定する。

  • ソレノイド励磁方式で、サーチコイルは空隙磁束を保証するために4πI コイル方式になっており、サーチコイル内に試料を入れるだけで簡単かつ正確なB-Hカーブの測定ができます。
  • H軸拡大装置により、磁界=0近傍の測定分解能が高くでき、正確な保磁力(Hc)、初透磁率を測定することができます。
  • 10~15mm×70~100mmの箔材
  • 分析依頼 (データ解析を含む) 1検体単位
  • 報告書作成(Excel,PDF,ペーパー)
  • 御見積・分析相談:無料 お気軽にご相談ください。

直流磁化特性測定(粉末)

装置

粉末用 励磁・検出ユニット

装置

直流磁化特性測定装置 BHS-40
理研電子(株)製

測定例

軟磁性粉末の測定結果

  • 仕様
  • 測定原理
  • 特徴
  • サンプル
  • サービス・御見積
B積分器 測定範囲
±10³~10⁸Mx‐turn/FS  確度 :±0.5%/FT
H分流器 測定範囲
1~10000A/m 確度 :±0.5%/FT
測定項目

Hm , Bm , Br , Hc , Rs , μ0 , μm

付属品
B軸・H軸拡大装置、消磁装置、デジタルデータ処理装置

軟磁性材料の直流磁化特性(磁束密度、保磁力、透磁率、ヒステリシスループ等)を測定する装置。連続的に変化する磁場を試料に印加し、それに伴う磁束変化によって生ずる誘導起電力をB積分器により積分して磁化の強さを測定する。

  • 粉末ケースの上下をヨークで挟み、磁気回路を閉じているため、ケース形状による反磁界は生じない。そのため、粉末の測定精度を上げることができる。
  • B軸拡大装置の導入により、箔状サンプルに比べ透磁率が小さい粉末の原点近傍の分解能を上げることができ、初透磁率も測定可能である。
  • 粉末状のサンプル 20mg以上
  • 分析依頼 (データ解析を含む) 1検体単位
  • 報告書作成(Excel,PDF,ペーパー)
  • 御見積・分析相談:無料 お気軽にご相談ください。

鉄損測定(トロイダルコア)

装置

B-Hアナライザ SY-8219
岩崎通信機(株)製

測定例

軟磁性薄帯の測定結果

  • 仕様
  • 測定原理
  • 特徴
  • サンプル
  • サービス・御見積
測定方式
CROSS-POWER法
測定モード
B - H 測定、Pc 測定、μ測定
測定周波数
10Hz ~ 20kHz
測定可能項目
コアロス(Pc , Pcv , Pcm )、最大磁束密度(Bm)、最大磁界(Hm)、振幅比透磁率(μa)、他

試料にN1回巻かれた1次巻線に電流iを連続的に変化させながら流すと、磁界Hは試料の磁路長をLcとしてH=N1i/Lcで与えられまたN2回巻かれた2次巻線の誘起電圧から磁束密度Bを求めることができる。
こうして得られたB-Hループの面積から、鉄損を測定する。

  • 縦型単ヨーク式励磁電流法単板磁気特性試験法を採用。
  • 測定ヨークのコアロス等の磁気特性をキャンセルするヨーク保証機能を搭載
  1. トロイダルコア(巻き線無し)
  2. 1次・2次巻き線付き
    トロイダルコアトランス
  • 分析依頼  (データ解析を含む) 1検体(f×Hm 20条件)
  • 報告書作成(Excel,PDF,ペーパー)
  • 御見積・分析相談:無料 お気軽にご相談ください。

鉄損測定(箔材)

装置

B-Hアナライザ SY-8219
岩崎通信機(株)製

測定例

軟磁性薄帯の測定結果

  • 仕様
  • 測定原理
  • 特徴
  • サンプル
  • サービス・御見積
測定方式
CROSS-POWER法
測定モード
B - H 測定、Pc 測定、μ測定
測定周波数
10Hz ~ 20kHz
測定可能項目
コアロス(Pc , Pcv , Pcm )、最大磁束密度(Bm)、最大磁界(Hm)、振幅比透磁率(μa)、他

小型単板磁気測定装置に付属するBコイルのサンプル穴に箔材を通し、装置にセットする。小型単板磁気測定装置を、B-Hアナライザから制御し、励磁コイルに電流を流して試料に磁界Hを変化させながら与え、Bコイルの巻線の誘起電圧から磁束密度Bを求めることができる。こうして得られたB-Hループの面積から、鉄損を測定する。

  • 残留磁化を残さないように、減衰交番磁界をかけて減磁する。
  • 鉄損の他、BH/Pc測定機能に加えて、μ/L/Q の測定が可能。
  • 厚さ:1mm以下/幅:10mm以下
  • 長さ:50mm~100mm
  • 分析依頼  (データ解析を含む) 1検体(f×Hm 20条件)
  • 報告書作成(Excel,PDF,ペーパー)
  • 御見積・分析相談:無料 お気軽にご相談ください。

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